JIIE相互研究会「“外観検査”を深議する」
:会員限定無料相互研究会
第1弾として、近年の計測技術や情報処理技術の進歩によっても、なお完全自動化の実現が難しい「外観検査」作業をテーマに取り上げます。
本研究会では、電気通信大学助教の中嶋良介氏によるコーディネートのもと、実際の取り組み状況や現状の課題、問題意識を共有した上で、異業種の方々とのグループディスカッションを通じて、課題解決に向けた方策や今後の方向性、さらには参加メンバー自社への課題解決のヒントとなるポイントを相互に研究し深堀していきます。
まず、第1回は、参加者との問題意識を共有した上で、以降の例会で取り上げるべきテーマ・課題を議論します。第2回は、第1回の議論内容をベースに事例紹介を含めた議論、第3回は自社展開へのヒントを探ることを予定しています。また、第4回以降は、参加メンバーの意見をお聞きした上で、取り上げて深堀が必要なテーマを設定し議論していきます。
活発な議論が行われ、時には自社での実例をもとにした議論や現場見学、コーディネータとの事例研究など多岐にわたる発展を模索していきます。
同じ課題を持つ仲間との議論の場へ、ぜひ多くの方々のお参加をお待ちしております。
テーマ
“外観検査”を深議する
開催日、時間
毎月第3金曜日
2021年1月15日(金)~
14:00~17:00
申込受付
受講方法
対象
日本IE協会会員の方々
テーマを深掘りしたい方々
他社との交流を図りたい方々
コーディネーター
国立大学法人 電気通信大学
情報理工学研究科 情報学専攻 助教
中嶋 良介 氏
参加費
無料(定員30名)
プログラム内容(予定)
第1回 2021年 1月15日 (金) |
14:00~ |
課題提起 |
外観検査の問題の整理と共有 【ポイント】 ・外観検査の問題とは?なぜ改善と標準化が難しい? ・自動化の問題とは? ・外観検査の役割とあるべき姿とは? (電気通信大学 中嶋 良介 氏) |
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15:00~ |
グループ
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・参加メンバーの認識共有 ・課題提起に対する議論 ・まとめ |
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16:00~ |
発表 |
・各グループから議論内容の紹介 ・他グループからの意見、質疑 |
|
16:30~ |
全体討議 |
・全体を通した議論 ・次回以降の議論テーマの検討 |
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第2回 2021年 2月19日 (金) |
14:00~ |
課題提起 |
外観検査の問題解決へのアプローチ 【ポイント】 ・外観検査の構成要素とその体系化 ・IE改善活動の事例紹介 ・AIを活用した研究事例紹介 (企業事例・依頼中) |
15:00~ |
グループ
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・課題提起に対する議論 ・まとめ |
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16:00~ |
発表 |
・各グループから議論内容の紹介 ・他グループからの意見、質疑 |
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16:30~ |
全体討議 |
・全体を通した議論 ・次回以降の議論テーマの検討 |
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第3回 2021年 3月19日 (金) |
14:00~ |
課題提起 |
外観検査の問題解決とIErの役割 【ポイント】 ・IE改善活動をどのように推進すべきか ・良い検査環境・検査方法をどう設計し、実現するか ・検査者をどのように訓練すべきか ・外観検査を担当するIErの役割 (企業事例・依頼中) |
15:00~ |
グループ
|
・課題提起に対する議論 ・まとめ |
|
16:00~ |
発表 |
・各グループから議論内容の紹介 ・他グループからの意見、質疑 |
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16:30~ |
全体討議 |
・全体を通した議論 ・次回以降の議論テーマの検討 |
テーマ(案)
※第4回以降は参加者の皆さまから「興味あるテーマ」をさらに掘り下げていただく例会も開催予定です。
ぜひ、一緒に研究会のテーマを企画してみませんか?
第4回以降のテーマ案(第1回から第3回までで議論に上がったテーマも加える予定)
第4回以降 | ①実践的なテーマ ・各社の実製品を持ち込んでの議論 ・検査用照明の違いによるキズ・汚れなどの見え方評価 |
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②コーディネータと参加企業による共同研究テーマ ・高度な技能を持つskilled workerの作業分析 ・特に外観検査が難しい製品の特徴分析 ・肉眼の限界を超えた欠点への対応 ・検査から生産工程の改善活動につなげる ・検査から良品のみを生産する工程をつくる |
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③各社の取り組みの考え方や状況 ・外観検査の問題解決とトップマネジメントの役割 ・日本と海外の外観検査事情 ・10年後の外観検査を考える |
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④参加メンバーからの提案、など |
※プログラムは都合により変更になる場合があります。